Лекции специалистов

"Определение оптических параметров покрытий"

Сясько А.В.


Открыть
"Электроискровой метод контроля сплошности диэлектрических покрытий"

Мусихин А.С.


Открыть
"Контроль толщины диэлектрических покрытий электроискровым методом"

Мусихин А.С.


Открыть
"Перспективные бесконтактные методы и оборудование неразрушающего контроля для умных производств"

Сясько В.А.


Открыть
"Особенности подготовки модели магнитоиндукционного малогабаритного преобразователя толщиномера для оптимизации геометрических параметров в системах моделирования, реализующие метод конечных элементов"

Васильев А.Ю.


Открыть