Lectures by specialists

"Определение оптических параметров покрытий"

Сясько А. В.


Open
"Электроискровой метод контроля сплошности диэлектрических покрытий"

Мусихин А.С.


Open
"Перспективные бесконтактные методы и оборудование неразрушающего контроля для умных производств"

В.А. Сясько


Open
"Контроль толщины диэлектрических покрытий электроискровым методом"

А.С. Мусихин


Open

Заголовок раздела

"Особенности подготовки модели магнитоиндукционного малогабаритного преобразователя толщиномера для оптимизации геометрических параметров в системах моделирования, реализующие метод конечных элементов"

А.Ю. Васильев


Open
"К вопросу о структуре, стандартизации и метрологическом обеспечении интеллектуальных измерительных преобразователей умных производств"

Сясько В.А.


Open